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专利名称: 一种基于干涉位移测量系统的滚转角测量系统和方法
申 请 号: CN202111623670.5
申请日期: 2021.12.28
专利授权日期:
第一发明人: 王亮亮
全部发明人: 王亮亮; 商正君; 杨美婷; 杨静; 董姗; 赵建海; 于涌
专利类别: 发明