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专利名称: 一种欠采样条件下基于相位差法的相位测量方法
申 请 号: CN202410916339.X
申请日期: 2024.07.09
专利授权日期:
第一发明人: 颜召军
全部发明人: 颜召军; 郑振亚; 许春; 郝蕾; 陕欢源; 沈世银; 文新荣
专利类别: 发明