专利库
专利名称: 一种数字电路系统的测试方法
申 请 号: CN201610972232.2
申请日期: 2016-11-04
专利授权日期: 2019-03-12
第一发明人: 刘杰
全部发明人: 刘杰;帅涛;赵广东;陈鹏飞;张喆;黄奕
专利类别: 发明