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专利名称: 一种基于干涉位移测量系统的滚转角测量系统和方法
申 请 号: CN202111623670.5
申请日期: 2021-12-28
专利授权日期: 2023-06-13
第一发明人: 王亮亮
全部发明人: 王亮亮;商正君;杨美婷;杨静;董姗;赵建海;于涌
专利类别: 发明